Матричная камера

ace 2 X visSWIR

SWIR-камеры помогут увидеть то, что остается невидимым для человеческого глаза

Камера для съемки в коротковолновом инфракрасном диапазоне (SWIR-камера) подходит для решения таких задач, как проверка элементов защиты, контроль наполнения, инспектирование сложных конструкций и обнаружение скрытых объектов.

Смотреть камеры ace 2 X visSWIR

Видимый спектр + SWIR
Получение изображений в видимом и невидимом спектре с длиной волны от 0,4 мкм до 1,7 мкм
Высокое разрешение и детализация
Благодаря высокочувствительным сенсорам Sony IMX990/991 SenSWIR
Компактная конструкция
Простая интеграция благодаря компактному корпусу 29 × 29 мм
Дополнительные компоненты visSWIR
Широкий выбор компонентов visSWIR для съемки в коротковолновом инфракрасном диапазоне
Стандартные интерфейсы
Интерфейс GigE или USB 3.0 с высокой пропускной способностью; поддерживается промышленными ПК и встраиваемыми системами
Удобное получение изображений
Управление камерой и получение изображений в одном приложении
Лучшее соотношение цены и производительности
Широкий выбор высококачественных компонентов SWIR по низким ценам
Прочность и надежность
Подтвержденная на практике надежность и долговечность наших компонентов — и три года гарантии

Pixel Correction Beyond

Pixel Correction Beyond — это улучшенная функция динамической коррекции дефектных пикселей. Она предусмотрена в камерах visSWIR и используется для коррекции возможных дефектов изображения (так называемых «горячих» или дефектных пикселей) с помощью разработанного и запатентованного нами алгоритма. Эта функция обеспечивает динамическую коррекцию дефектных пикселей на передаваемых кадрах с учетом окружающих пикселей.

Подробнее о Pixel Correction Beyond

Возможности камер ace 2 X visSWIR

Камеры ace 2 X visSWIR ведут съемку в коротковолновом инфракрасном диапазоне (SWIR). В этом диапазоне многие материалы проявляют иные оптические свойства по сравнению с видимым диапазоном, благодаря чему появились возможности для разработки систем под задачи, которые невозможно было решить с помощью съемки в видимом диапазоне волн.

Что скрывается под поверхностью

В коротковолновом инфракрасном диапазоне многие материалы при прохождении света кажутся прозрачными. Как следствие, SWIR-камеры позволяют увидеть то, что скрывается под поверхностью. Благодаря этому можно выявлять дефекты на фруктах и овощах, контролировать уровень заполнения непрозрачных емкостей и инспектировать электронные устройства.

Определение температуры

SWIR-камеры можно использовать для измерения или оценки температуры объектов, начиная примерно со 140°C. В коротковолновом инфракрасном диапазоне объекты разной температуры имеют разную яркость. Это свойство может пригодиться, например, в решении таких задач, как контроль сварных швов или мониторинг технологических процессов.

Типичные области применения SWIR-камер

Системы компьютерного зрения со съемкой в коротковолновом инфракрасном диапазоне применяются для решения множества задач — от проверки полупроводников и вторичной переработки материалов до контроля качества и сортировки пищевых продуктов.

Контроль качества полупроводниковых пластин

Кремний в коротковолновом инфракрасном диапазоне выглядит прозрачным, поэтому в производстве и контроле качества полупроводниковых пластин появилась возможность выявлять дефекты, такие как пустоты, трещины и примеси.

Контроль качества солнечных панелей

Технология SWIR используется для выявления дефектов, не проявляющихся в видимом диапазоне спектра, при проверке как отдельных кремниевых блоков, так целых фотоэлектрических модулей.

Сортировка материалов

В коротковолновом инфракрасном диапазоне можно различать и сортировать объекты на основе их оптических свойств, например, разделять различные виды пластика при вторичной переработке материалов.

Контроль наполнения

В коротковолновом инфракрасном диапазоне можно контролировать наполнение емкостей, даже если они выполнены из непрозрачного материала. Это могут быть пластиковые бутылки в розливе напитков или блистеры в фармацевтической промышленности.

Проверка элементов защиты

В процессе производства банкнот и удостоверяющих личность документов проверяется целостность и подлинность находящихся под поверхностью элементов защиты, например металлических полос. Кроме того, в инфракрасном спектре проявляются элементы, нанесенные краской со специальными свойствами.

Контроль качества пищевых продуктов

В обеспечении качества сельскохозяйственной продукции важным условием является обнаружение дефектов, скрывающихся под поверхностью. Еще одна задача заключается в выявлении посторонних предметов среди пищевых продуктов — например, камней среди картофеля.

Интересуют технологии SWIR? Наши системные инженеры изучат ваши требования и предложат соответствующее решение. Напишите нам — мы будем рады вам помочь!