반도체 첨단 패키징이 미세 구조화와 고집적화로 지속적으로 발전함에 따라, 검사 공정에는 그 어느 때보다 높은 정밀도, 속도, 그리고 안정성이 요구되고 있습니다. 이번 웨비나에서 Basler는 장비 개발 과정에서 직면하는 주요 과제를 살펴보고, 고정밀 검사를 지원하는 최신 비전 접근 방식을 실제 적용 사례와 함께 소개합니다.
Basler 솔루션은 이미지 분석부터 외부 조명 컨트롤러 제어까지 모든 과정을 FPGA 상에서 처리함으로써 CPU 부담 없이 지연 없는 제어를 실현합니다. 평균 밝기 분석을 기반으로 한 트리거 응답은 고속 라인에서도 안정적인 성능을 제공하며, 다양한 장치와의 연동도 유연하게 지원합니다.
