半導体検査
半導体検査
各種工程において優れた精度・速度・信頼性を実現
各種工程において優れた精度・速度・信頼性を実現
最先端のビジョン技術を駆使し、高度な欠陥検知と品質管理を実現することで、微細な構造、短いサイクルタイム、厳しい品質基準、複雑かつ高度なプロセスをはじめ、半導体製造のさまざまな課題を解決。業界をリードする企業と提携しながら、前工程のウエハー検査から後工程のパッケージ検査（ファイナル検査）に至るまで、半導体検査の精度・速度・信頼性の向上に貢献するビジョンソリューションをご提案いたします。
性能＆速度
革新的な技術と高性能なカメラで最先端の用途に対応耐久性＆信頼性
業界最低水準の故障率＆365日24時間体制の運用が可能簡単接続
pylonを介してBasler製品を対象システムにスムーズに接続長期供給＆安心の納品体制
安定したサプライチェーンにより、製品の長期供給を確保しながら、ダウンタイムを低減
半導体検査の課題解決に関する事例紹介
リアルタイムな処理、優れた画質、最適な光学設計、AI対応のソフトウェアにより、正確かつ迅速な欠陥検知とシームレスなシステム構築を実現。半導体検査の課題解決に関する事例をご紹介します。
半導体検査の精度向上に関する事例紹介
高度なシステム設計、特殊なカメラ機能、画像処理に関する豊富なノウハウにより、半導体業界の厳しい要件を満たす高精度な検査を実現。半導体検査の精度向上に関する事例をご紹介します。
おすすめ製品
マシンビジョンによる作業の効率化・信頼性向上をお考えなら、以下の製品が最適です。
