ファクトリーオートメーション

- シリコンウエハー検査:X線の代わりにSWIR光を活用することで、透明なシリコンのボイド、ひび割れ、不純物などを可視化
- 温度表示:高解像度画像を撮影しながら、250°C以上の高温を検出
- ディスプレイ検査:微細な表面欠陥でも検出可能な解像度を実現
- 太陽光パネル検査:シリコンブロック単体からパネル全体まで幅広く検査可能
- リサイクル:プラスチックゴミ、可燃ゴミなどの分別に貢献
- 分類:各種プラスチックの分類が可能
対象物の奥深くにある内部構造を可視化するなど、人間の目に見えないものを検出するSWIRカメラ。柔軟な分析と高精度な認識が可能なBasler ace 2 X visSWIRは、保安監視、充填量の確認、微細な構造物や隠れた欠陥の検知をはじめ、幅広い用途で威力を発揮します。
ソニー社の革新的なSenSWIR技術搭載イメージセンサーを採用し、0.4μm~1.7μmの波長に対応しているBasler ace 2 X visSWIRは、1台のカメラで可視光から非可視光帯域までの撮像が可能であるなど、幅広い用途で抜群の品質とコストパフォーマンスを実現します。
カメラモデル | フレームレート | インターフェース | センサー | |
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a2A640-240umSWIR | 240 fps | USB 3.0 | IMX991 |
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a2A1280-125umSWIR | 125 fps | USB 3.0 | IMX990 |
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a2A640-240gmSWIR | 240 fps | GigE | IMX991 |
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a2A1280-80gmSWIR | 80 fps | GigE | IMX990 |
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カメラ、フィルター、照明とともに画質を左右する要素として、SWIRビジョンシステムに最適なレンズが見つかります。
レンズの詳細はこちらSWIRビジョンシステムの撮影環境の向上に欠かせない照明をご提供しています。
照明の詳細はこちらさまざまな帯域幅・インターフェースに対応した産業用インターフェースカードを幅広く取り揃えています。
インターフェースカードの詳細はこちらレンズを保護しながら、画質の向上にも貢献するなど、微細な構造物の撮影におすすめです。
光学フィルターの詳細はこちらIP67対応筐体、ケーブルをはじめ、厳しい品質管理と選定工程を通過したその他アクセサリーも充実しています。
IP67対応筐体の詳細はこちら