針對晶片承載盤進行高效光學字元辨識 (OCR)

在半導體製程中，晶片承載盤與 IC 承載盤的精確辨識與可溯源性，對於製程的品質管理與庫存管理十分重要。承載盤與個別晶片上標記有獨特的識別碼，必須在如照明不佳、標記不一致、工作距離變動與高流通量等困難條件下進行可靠的讀取作業。精確的晶片承載盤 OCR 可以避免混淆、確保可溯源性、維持生產過程的完整、避免停機、召回和監管問題。

為了在晶片承載盤和 IC 承載盤上獲取可靠的 OCR 讀取結果，必須先獲得聚焦良好的高對比度影像，才能得到穩定的字元辨識結果。使用專業的光源設定，可以有效地解決晶片承載盤上凸起字元的低對比度問題，而 Basler 相機內建的 自動對焦解決方案，能夠有效對應可變工作距離的問題，獲得一致的清晰影像。

在軟體方面，pylon vTool OCR 能以最精簡的設定來準確讀取文字，易於整合且具備高效率。對於晶片承載盤之外更複雜的 OCR 應用，例如可變定位、扭曲字元或混亂背景的 OCR 應用，我們即將推出的 AI OCR 解決方案擅長應對這類挑戰，在任何環境下都能提供可靠的表現。

• 可靠性：一致、準確的 OCR 結果，可確保可靠的性能。

• 針對特定需求設計：我們的 OCR 解決方案透過智慧光源或自動對焦，以及具成本效益的 pylon vTool OCR 軟體來解決您的困難。

• 易於部署：快速現場部署，無需程式設計專業知識或豐富的視覺知識。

對於較小的視覺團隊或 OCR 專業知識有限的團隊，我們的解決方案帶來極高價值；不但簡化部署和整合，更提供具有成本效益的選擇，只需最少的資源和技術知識即可運作。