ace 2 X visSWIR
SWIR 相機可以看見人眼看不見的東西
短波紅外線相機有利多種應用，包括檢查安全功能、檢測充填度、穿透複雜結構、檢測隱藏物體等。
可見 + SWIR
可見與不可見光譜範圍內的影像，波長範圍為 0.4 μm 至 1.7 μm高解析度與清楚的細節
得益於高感光度的 Sony IMX990/991 SenSWIR 感光元件小巧設計
精巧的 29 mm x 29 mm 外殼，易於進行 Design-invisSWIR 配件
各式各樣的 visSWIR 元件適用於短波紅外線應用標準介面
GigE 與 USB 3.0 介面適用於高資料輸送量，工業電腦和嵌入式系統可支援整合影像擷取
單一系統內的相機控制和影像擷取一流性價比
品質高、價格低的 SWIR 產品組合高度耐用，高度可靠
眾所周知我們的產品可靠耐用，提供三年保固
Pixel Correction Beyond 功能
Pixel Correction Beyond 以更佳的方式動態校正畫素瑕疵。此功能使用我們開發並獲得專利的演算法校正 visSWIR 相機中可能出現的畫素瑕疵（熱畫素和瑕疵畫素）。實作上，根據影像內容直接在相機對現有影像進行動態校正。
ace 2 X visSWIR 相機功能
ace 2 X visSWIR 相機在短波紅外線 (SWIR) 範圍內運作。此光譜範圍不同於可見光譜範圍，許多材料會呈現不同的光學特性，因此無法在可見波段實現的應用能在這裡實現。
看見表面之下的內容
SWIR 光譜範圍內的光使許多材料變成透明，因此短波紅外線 (SWIR) 相機可以查看表面之下的情況。例如可以用於檢驗蔬果瑕疵、檢查不透明容器裡的充填度、檢測電子裝置以確保滿載等。
溫度檢測
SWIR 相機可在約 140°C 的溫度下測量溫度或估測物體。在 SWIR 光譜範圍內，不同的溫度會產生不同的亮度。這項特性可用於焊縫檢查、過程監控等工作。
SWIR 光譜範圍內典型的應用領域
SWIR 光譜範圍內的視覺系統應用包羅萬象，從半導體檢測、回收到食品的品質檢驗和分揀。
有興趣了解採用 SWIR 技術的方案？我們的應用工程師團隊樂於檢查並測試您的用例。歡迎洽詢！
