ace 2 X visSWIR
SWIR 카메라는 눈에 보이지 않는
부분도 검사할 수 있습니다.
보안, 용량 검사 등의 다양한 어플리케이션에 적용할 수 있습니다.
가시광선 + SWIR
0.4µm ~ 1.7µm의 파장을 가진 가시광선 및 비가시광선 스펙트럼에서 이미지를 획득합니다.고해상도 및 디테일
고감도 최신 Sony SenSWIR 센서 IMX990/991를 적용하였습니다.컴팩트한 디자인
컴팩트한 29mm x 29mm 하우징으로 디자인 인(Design-in)이 용이합니다.visSWIR 액세서리
단파장 적외선 어플리케이션에 적합한 광범위한 visSWIR 구성 요소표준 인터페이스
산업용 PC 및 임베디드 시스템에서 지원되는 높은 데이터 처리량을 위한 GigE 및 USB 3.0 인터페이스통합 이미지 획득
하나의 시스템에서 카메라 제어 및 이미지 획득최고의 가격 대비 성능
합리적인 가격으로 높은 품질을 제공합니다.높은 내구성 및 신뢰성
3년 제품 보증 기간을 통해 제품의 신뢰성과 내구성을 제공합니다.
픽셀 보정 기능 (Pixel Correction Beyond)
픽셀 보정 기능(Pixel Correction Beyond)는 향상된 동적 결함 픽셀 보정 기능입니다. 이 기능은 Basler가 개발하여 특허를 받은 알고리즘을 사용하여 visSWIR 카메라에서 발생할 수 있는 픽셀 결함(핫 픽셀 및 결함 픽셀)을 보정합니다. 이 기능은 카메라의 이미지 콘텐츠와 관련하여 현재 이미지의 동적 보정을 직접 수행합니다.
ace 2 X visSWIR 카메라의 기능
ace 2 X visSWIR 카메라는 단파장 적외선(SWIR) 범위에서 작동합니다. 이 스펙트럼 범위에서는 많은 물질이 가시광선 범위와 다른 광학적 특성을 갖습니다. 따라서 가시 파장대에서는 불가능한 어플리케이션을 구현할 수 있습니다.
표면 밑의 모습을 검사할 수 있습니다.
SWIR 스펙트럼 범위의 빛은 많은 물질을 투명하게 만듭니다. 따라서 단파장 적외선(SWIR) 카메라를 사용하면 표면 밑의 모습을 검사할 수 있습니다. 예를 들어, 과일과 채소의 결함을 감지하거나 불투명한 용기의 충전 수준을 확인하거나 전자 기기가 완전히 충전되었는지 검사할 수 있습니다.
온도 감지
SWIR 카메라는 약 140°C부터 물체의 온도를 측정하거나 추정하는 데 사용할 수 있습니다. SWIR 스펙트럼 범위에서는 온도에 따라 밝기가 달라집니다. 이 특성은 용접 이음새 검사나 공정 모니터링에 사용할 수 있습니다.
SWIR 스펙트럼 범위의 일반적인 적용 분야
SWIR 스펙트럼 범위의 비전 시스템은 반도체 검사 및 재활용부터 식품의 품질 검사 및 분류에 이르기까지 다양한 분야에서 활용되고 있습니다.
SWIR 기술이 적용된 솔루션에 관심이 있으신가요? 어플리케이션 엔지니어 팀이 귀사의 사용 사례를 확인하고 테스트해 드리겠습니다. 언제든 문의해 주세요!
