ace 2 X visSWIR 카메라
에어리어 스캔 카메라

ace 2 X visSWIR - SWIR 카메라

SWIR 카메라는 눈에 보이지 않는 ‍부분도 ‍검사할 수 있습니다.

ace 2 X visSWIR 카메라는 가시광선과 단파 적외선(SWIR) 스펙트럼에서 뛰어난 이미지 품질을 제공합니다. 컴팩트하고 비용 효율적인 설계로, 복잡한 구조를 투과하거나 숨겨진 물체를 감지하는 등 기존 SWIR 카메라가 크거나 비싼 이유로 사용이 어려운 응용 분야에서 최적의 솔루션을 제공합니다.

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  • 가시광선 + SWIR

    최대 1.7µm의 가시광선 및 단파장 적외선 스펙트럼에서 이미지 획득

  • 컴팩트한 디자인, 합리적인 가격

    29mm x 29mm의 컴팩트한 하우징에 장착된 합리적인 가격의 카메라

  • 고화질 이미지

    비냉각식 카메라는 혁신적인 펌웨어 기능을 통해 최고의 이미지 품질 제공

  • 광범위한 visSWIR 액세서리

    단일 소스에서 비전 시스템을 위한 조정된 구성 요소 제공

혁신적인 펌웨어 기능으로 두 가지 장점 모두 누리기

당사의 ace 2 X visSWIR 카메라는 냉각식 카메라의 높은 이미지 품질과 비냉각식 카메라의 크기와 가격을 결합한 제품입니다.

InGaAs 기술을 기반으로 하는 SWIR 센서(단파장 적외선, SWIR)는 이미지에 흰색 점으로 보이는 픽셀 결함이 생기는 경향이 있습니다. 노출 시간이 길어지거나 센서 온도가 높아지면 이러한 현상은 더욱 심해집니다. 이로 인해 냉각 기능이 있는 카메라가 자주 사용되지만 이는 카메라의 크기와 가격을 높인다는 단점이 있습니다.

왼쪽: Pixel Correction Beyond 기능이 있는 비냉각식 ace 2 X visSWIR 카메라 | 오른쪽: 비냉각식 비교 카메라

픽셀 보정 기능(Pixel Correction Beyond)으로 픽셀 결함 없이 선명한 이미지

InGaAs 센서에서 일반적으로 발생하는 픽셀 결함은 이미지 처리에 부정적인 영향을 미칠 수 있습니다. Pixel Correction Beyond는 동적 결함 픽셀 보정 기술로, 당사의 SWIR 카메라가 뛰어난 이미지 품질을 제공하는 이유 중 하나입니다.

이 기능은 Basler에서 개발된 알고리즘을 기반으로 합니다. 사용 중에 각 이미지에서 발생하는 픽셀 결함을 감지하고 카메라의 'FPGA에서 직접 보정하며, 이미지 내용의 왜곡 없이 처리됩니다. 이미지 비교에서는 35°C 센서 온도와 50ms 노출 시간에서의 효과를 보여줍니다. Pixel Correction Beyond는 픽셀 결함을 크게 줄여줍니다.

픽셀 보정 기능 자세히 보기

왼쪽: 라인 노이즈감소 꺼짐 | 오른쪽: 라인 노이즈 감소 켜짐

라인 노이즈 감소로 균일한 배경 구현

VGA 또는 130만 화소(IMX991 또는 IMX990)의 SWIR 카메라에서도 고해상도 SWIR 카메라와 동일하게 우수한 이미지 품질을 얻기 위해 라인 노이즈 감소 기능이 탑재되어 있습니다.

이 기능은 이미지에서 가로 줄무늬로 표시되는 배경 노이즈를 실시간으로 최소화하여 보다 균일한 배경을 보장합니다.

SWIR 기술과 Basler의 독특한 기능

ace 2 X visSWIR 카메라 모델

산업 적용을 위한 적합한 카메라를 찾거나 당사의 Vision System Configurator를 사용하여 시스템을 설계해 보세요.

ace 2 X visSWIR 카메라의 기능

ace 2 X visSWIR 카메라는 가시광선 및 단파 적외선(SWIR) 범위의 빛을 모두 감지합니다. 0.9µm에서 1.7µm의 파장을 갖는 SWIR 범위에서는 많은 재료가 서로 다른 광학적 특성을 보입니다. 이 카메라는 새로운 어플리케이션 분야에 사용할 수 있습니다.

표면 밑 검사 - 1350nm(SWIR)와 비교하여 1000nm(NIR)에서‍는 사과의 멍 자국 ‍검사 가능
사과에 생긴 멍을 1000nm(NIR)와 1350nm(SWIR)로 비교한 결과

표면 ‍밑 검사 가능

단파장 적외선은 파장이 길기 때문에 일부 물질을 투과하여 투명하게 보입니다. 이를 통해 SWIR 카메라는 표면 아래에 무엇이 있는지 볼 수 있습니다. 예를 들어 과일과 채소의 멍 자국을 감지하고 불투명한 용기의 채워진 정도를 확인할 수 있으며 반도체의 부품 결함 여부도 검사할 수 있습니다.

온도 감지 - 1,000nm(NIR)와 1,350nm(SWIR)에서 온도가 최대 400°C인 납땜 인두의 이미지 비교
1,000nm(NIR)와 1,350nm(SWIR)에서 온도가 최대 400°C인 납땜 인두의 이미지 비교

온도 감지

뜨거운 표면(약 140°C)은 단파장 적외선 범위의 빛을 방출하기 때문에 물체의 온도를 측정하거나 추정하는 데 SWIR 카메라가 사용됩니다. 이미지의 강도는 온도에 직접적으로 의존합니다. 이 속성은 용접 이음새 검사와 같은 열 공정을 모니터링하는 데 사용할 수 있습니다.

SWIR 스펙트럼 범위의 주요 적용 분야 

SWIR 스펙트럼 범위의 비전 시스템은 반도체 검사 및 재활용에서 식품 품질 검사 및 분류에 이르기까지 다양한 분야에서 활용되고 있습니다.

웨이퍼 검사

실리콘은 SWIR 스펙트럼 범위에서 투명하기 때문에 반도체 생산 및 검사 과정에서 공극, 균열, 불순물과 같은 결함을 확인할 수 있습니다.

태양전지 검사

SWIR 기술은 광전지를 완성하기 위해 개별 실리콘 블록을 검사할 때 가시 주파수 범위에서 볼 수 없는 결함을 감지하는 데 사용됩니다.

자료 정렬

SWIR 파장대에서는 광학적 특성에 따라 서로 다른 재료를 구분하고 분류할 수 있습니다. 예를 들어, 재활용 과정에서 서로 다른 플라스틱을 분리할 수 있습니다.

레벨 제어

SWIR 파장 대역에서는 불투명한 물질을 통해 충전 수준을 감지할 수 있습니다. 음료수 충전 플라스틱 병이나 제약 산업의 블리스터(‍Blister) 등이 이에 해당합니다.

안전 점검

지폐와 신분증을 제작하는 동안 금속 스트립과 같은 보안 기능의 표면 ‍밑의 결함이나 위조 여부를 확인할 수 있습니다. 적외선 스펙트럼으로 특수 잉크를 검사할 수도 있습니다.

식품 품질 관리

농산물 품질 관리에서 SWIR(단파장 적외선) 스펙트럼 범위를 사용하면 압흔(압력을 받아 표면에 남은 자국) 감지 및 당도 추정이 가능합니다. 또한 감자와 돌과 같은 제품과 불순물을 보다 더 신뢰성 있게 구분할 수 있습니다.
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완벽한 visSWIR 시스템을 위한 더 많은 제품

  • 초점 거리가 고정된 렌즈

    초점 거리가 고정된 렌즈

    고정 초점 렌즈는 Basler 카메라와 완벽한 조화를 이루는 제품입니다. Basler는 항상 다양한 비전 요구 사항을 충족할 수 있는 최적의 렌즈를 제공합니다.

  • LED 조명

    LED 조명

    LED 조명은 비전 어플리케이션에서 일관된 이미지 품질을 보장합니다. Basler는 완벽하게 조율된 Basler 조명 포트폴리오를 제공합니다.

  • 이미지 처리를 위한 Basler 액세서리에는 네트워크 및 주변 장치와 마운팅 보조 장치뿐만 아니라 카메라, 렌즈 및 조명을 위한 다양한 액세서리 제품이 포함됩니다.

    액세서리

    단일 소스의 모든 것 - 비전 시스템을 완성하는 엄선된 액세서리

  • IP67 하우징

    IP67 하우징

    내구성이 뛰어난 IP67 방수 하우징은 열악한 환경에서도 물, 먼지, 오염으로부터 카메라를 보호합니다.

  • 이미지 획득을 위한 Pylon 소프트웨어

    Basler 2D 카메라용 pylon

    pylon은 다양한 카메라 인터페이스, 간단한 프로그래밍 및 카메라 설정을 위한 실용적인 드라이버를 제공합니다.

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  • ace 2 X visSWIR 카메라 어플리케이션

    SWIR 카메라 - 어플리케이션 및 기술

    SWIR 기술은 특수 카메라와 구성 요소를 사용하여 단파 적외선(SWIR)의 특성을 활용함으로써 품질 관리에 새로운 프로세스를 가능하게 합니다.

    • 센서 기술
    • 카메라 기술
    Basler ace 2 X visSWIR 카메라는 Basler 조명, 렌즈, 소프트웨어와 함께 구성되어 농업 분야에서 더욱 효율적이고 신뢰할 수 있는 제품 검사를 가능하게 합니다.

    농산물 품질 검사를 위한 SWIR 솔루션

    ace 2 X visSWIR 카메라 시스템은 가시광선 스펙트럼을 넘어선 빛까지 감지하여, 사과, 감자 등 농산물 품질을 검사하는 데 매우 유용합니다.

    • 추적 및 모니터링
    • 농업
    • AOI, error detection, and quality control

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