CXP-12 솔루션 기반 전자 부품 검사

전자 부품 품질 검사와 CXP-12 boost

CMOS 이미지 센서의 미세 결함부터 디스플레이 패널의 균일도까지, 정밀한 품질 검사를 위해선 특수 센서 기반의 고성능 카메라가 필요합니다. Basler CXP-12 boost 카메라는 초소형 픽셀, 텔레센트릭 렌즈, 고해상도 조합으로 뛰어난 초점 심도와 넓은 시야를 구현합니다. 이를 통해 대형 검사 시스템에서도 가장 작은 부품까지 높은 품질로 정확하게 포착할 수 있습니다.

도전 과제

CMOS 센서를 검사할 때는, 매우 작은 흠집이나 결함까지도 정확하게 검출하면서도 높은 검사 처리 속도를 유지해야 합니다.

또한 디스플레이 패널과 그 안에 포함된 마이크로 LED(발광 다이오드)의 휘도를 검사할 경우, 최대 밝기 성능뿐 아니라 전체 화면에 걸친 밝기 균일성까지 정밀하게 측정할 수 있는 시스템이 요구되었습니다.

솔루션

CXP-12 boost 카메라는 두 가지 과제를 모두 해결할 수 있는 최적의 선택입니다. 텔레센트릭 렌즈를 활용해 높은 초점 심도를 확보할 수 있으며, 동시에 고해상도와 넓은 시야각(FOV)을 지원해 대형 시스템 내에서의 미세한 디테일까지 정밀하게 캡처할 수 있습니다. CXP-12 인터페이스 카드 1C(싱글 채널) 및 전용 소프트웨어를 포함한 추가 CXP-12 구성 요소는 카메라와 이상적인 조합을 이룹니다.

CMOS 센서: 모노크롬 boost 카메라는 CMOS 센서 검사에 매우 적합합니다. onsemi XGS 32000 글로벌 셔터 센서를 탑재해 32MP 해상도에서 초당 35프레임을 지원하며, 검사에 필요한 고속성과 이미지 품질을 모두 충족시킵니다. 1배율 텔레센트릭 렌즈는 21 x 15.79mm의 시야각을 제공합니다.

디스플레이 패널 및 마이크로 LED: 보다 넓은 검사 영역이 필요한 패널 검사에는 onsemi XGS 45000 글로벌 셔터 센서를 탑재한 boost 카메라가 적합합니다. 이 카메라는 최대 45MP의 고해상도를 제공하며, 초당 16프레임의 속도로 대형 패널의 균일성과 휘도 성능을 정밀하게 분석할 수 있습니다.

주요 이점

• 다양한 센서 옵션을 갖춘 boost 카메라로 어플리케이션에 맞는 유연한 구성 가능 – 은 초점 심도와 고해상도를 상황에 따라 선택

• 높은 데이터 처리량을 통해 고속 검사에서도 탁월한 이미지 품질 유지

• 대형 부품과 패널 검사에 적합한 넓은 시야각 제공

• Basler가 제공하는 완벽하게 호환되는 CXP-12 구성품과 소프트웨어로 손쉬운 통합 및 최적화