無感光元件冷卻功能的 SWIR 相機
全新感光元件技術與獨特相機功能,提供最佳影像品質
傳統 InGaAs 感光元件的影像品質,會隨著曝光時間的增加和感光元件溫度的升高而顯著下降。因此,SWIR 感光元件通常會配備整合式熱電冷卻 (TEC) 裝置。然而這會使相機設計更巨大、更加昂貴。Sony 在新型 SenSWIR 感光元件中實現了顯著技術改進,可確保極佳影像品質,而不需要任何冷卻,視曝光時間而定。
最後更新: 2025/09/03
閱讀時間:約 1 分鐘

有 TEC 與無 TEC SWIR 相機的差異
除了影像品質之外,這兩種相機也有一些差異。無 TEC 相機具有許多優點。
無 TEC 感光元件的 SWIR 相機優勢
由於不需要內部冷卻,因此相機外殼可採用較小的設計
價格大幅降低
沒有會產生空氣亂流的風扇,在無塵室中特別有利
沒有風扇帶來的震動,可避免測量誤差
無需熱電冷卻模組或風扇,能耗更低
只需一條連接線即可操作,也可使用 USB 線材。
TEC 相機 | 無 TEC 相機 | |
---|---|---|
外殼尺寸 | ⬆️ | ⬇️ |
價格 | ⬆️ | ⬇️ |
無活動零件 | ❌ | ✅ |
消耗電力 | ⬆️ | ⬇️ |
感光元件溫度如何影響影像品質?
有三種雜訊來源會影響訊噪比 (SNR),進而影響影像品質:讀取雜訊、光子雜訊 (光子射出雜訊) 和暗電流雜訊。然而,只有暗電流與溫度有關。由於冷卻型 (TEC) 和非冷卻型 (無 TEC) 的 SenSWIR 感光元件,其畫素結構和讀出電子元件完全相同,因此這兩種變體在較長曝光時間下的影像品質,僅在暗電流雜訊方面有所不同。
感光元件溫度與訊噪比
影像品質各個方面的相關性,很大程度上取決於應用的需求。對於某些應用而言,最重要的是最小程度的雜訊;而對於其他應用而言,要求的是最大的動態範圍。還有一些應用則需要識別出最細小的結構。這就是為什麼不只一個參數,而是有多個參數用來代表影像品質。在這種情況下,僅有溫度的影響以及暗電流雜訊是相關的,因此 SNR 是影像品質變化的適當量化指標。由於 SNR 只考量均質表面,因此還必須考慮結構和邊緣輪廓。
具有代表性感光元件溫度的相機設定
為了比較影像品質,我們使用四種不同的相機設定,並以典型的感光元件溫度,在最大取像速度下進行比較:
未冷卻,未固定的相機,感光元件溫度約為 60 °C
未冷卻,未固定的相機,感光元件溫度約為 45 °C
使用壓縮空氣冷卻器的主動式冷卻相機 ,感光元件溫度約 33 °C
具備 TEC 感光元件的相機,感光元件溫度約為 15 °C

曝光時間對 SenSWIR 感光元件影像品質的影響
SenSWIR 感光元件在不同曝光時間下的影像品質如何?它們需要冷卻嗎?
曝光時間低於 10 毫秒
一系列的多次測量結果顯示,TEC 感光元件在曝光時間少於 10 ms 時,在影像品質方面並無優勢。此曝光時間相對就等於拍攝連續影像的 100 fps 取像速度。SenSWIR 技術已經將傳統 InGaAs 感光元件的典型問題降至最低。
即使以 10 ms 的曝光時間,來比較非常不同的感光元件溫度 (15 °C vs. 60 °C) 時,也無法確定 TEC 與未冷卻 SenSWIR 感光元件的影像品質有任何特別的差別。訊噪比 (SNR) 也沒有顯著差異。在結構或邊緣輪廓的定性檢視中,也可以看到相同的結果。
因此,感光元件冷卻並未帶來決定性的優勢;在此曝光時間範圍內,暗電流的影響可以忽略不計。約 80% 的 SWIR 應用,都使用這種短曝光時間。
曝光時間超過 10 毫秒
曝光時間越長,感光元件溫度造成的影響就越大。感光元件溫度升高時,暗電流的影響會增加,訊噪比會降低,導致影像品質變差。主要原因是畫素缺陷,也就是所謂的「熱點」,也就是影像中的白點。感光元件溫度越高,曝光時間越長,發生的熱點就越多,即固定圖樣雜訊 (FPN)。同時,較高的暗電流也會增加所謂的暗電流拍攝雜訊,即隨機雜訊 (RN)。
TEC 感光元件通常可改善超過 10 ms 曝光時間的影像品質。然而,無 TEC 感光元件的缺點,可以透過一個 外部冷卻解決方案 與 專用韌體 這取決於各自的應用設定和影像品質要求。因此,值得檢查無冷卻 SenSWIR 感光元件的影像品質,是否足以在應用中自其優點獲益。
對 SenSWIR 感光元件而言,一般總認為在 SWIR 成像必須冷卻才能達到足夠的影像品質,但這種假設是不正確的。

在相機內進行影像最佳化
影像品質可透過後製處理加以改善。除了標準的靜態缺陷畫素校正外,我們的 ace 2 X visSWIR 相機還能提供更多專利相機功能,對影像品質予以最佳化。這些功能包括可消除個別缺陷的擴展動態缺陷畫素校正 (Pixel Correction Beyond),以及降噪和銳化功能 (PGI Feature Set)。
減少畫素誤差的 Pixel Correction Beyond
我們獨特的 Pixel Correction Beyond 演算法,專為消除工業 SWIR 成像中常見的畫素誤差而開發。結合影像內容並靈活調整修正強度,可獲得明顯更佳的 SWIR 影像效果。
對固定模式雜訊的影響
Pixel Correction Beyond 可即時降低以缺陷畫素 (熱點和閃爍熱點) 為特徵的固定圖樣雜訊,並保留最小的結構。範例影像中的數字 5 有兩個靠近邊緣的熱點。修正之後,這兩個熱點已經消失,但不會影響 5 的結構。
對 SNR 的影響
Pixel Correction Beyond 可降低破壞性缺陷畫素的影響,例如影像中的熱點、閃爍熱點或已損壞畫素。可大幅提升 SNR,達到接近 TEC 相機的水準。

對邊緣輪廓的影響
在所考慮的感光元件溫度和 200 ms 的曝光時間下,Pixel Correction Beyond 可以移除最多熱點,並在較高溫度下改善邊緣曲線。另一方面,隨機雜訊會因為冷卻和感光元件溫度降低而減少,邊緣曲線變得更為平滑。將使用 Pixel Correction Beyond 的 33 °C 感光元件溫度下的邊緣曲線與 15 °C 時的邊緣曲線比較, 即使曝光時間為相對較長的 200 ms,兩者也幾乎沒有任何差異。
減少光暈效果
在極端條件下,例如感光元件溫度達到 60 °C、曝光時間超過 100 ms,就會出現所謂的「光暈熱點」。這是由於熱點輻射到其他畫素而產生的熱點群。在這種情況下,可以使用「光暈抑制」功能,這是Sony SenSWIR 特有的功能。儘管只在約 50% 的情況下才會成功,但可將光暈熱點的發生率降至最低。光暈熱點是否構成問題,必須依據個別應用來決定。

PGI 可降低雜訊並提高影像銳利度
我們久經考驗的 PGI Feature Set 提供了另一種影像品質最佳化的方式。降噪功能可在不影響邊緣的情況下減少隨機雜訊。為了補償影像模糊的問題, 銳化功能可用於強調邊緣,並進一步最佳化影像的銳利度。這樣就可以根據檢測任務來個別調整影像品質。

降噪功能可顯著降低影像中各區域的雜訊,並可使用各種參數進行無限調整。

針對細微和邊緣銳利的結構 (例如字母、數字和條碼) 來進行影像銳利度最佳化
Pixel Correction Beyond 與降噪
Pixel Correction Beyond 與降噪的結合對邊緣輪廓有什麼影響?與簡單的降噪演算法不同,高低強度 (灰階) 值等級之間的漸層和振幅都會保留下來。在較強的降噪效果下,應該注意的是影像中的模糊可能會增加。在此必須小心平衡降噪和銳化的參數。

外部無風扇冷卻,可替代 TEC 感光元件
舉例來說,即使將感光元件溫度從 60 °C 適度降低至 45 °C 或 33 °C,也會對 SenSWIR 感光元件的影像品質產生正面影響。為了達到這種溫度穩定,Basler 提供了兩種冷卻解決方案。這兩種方案都不需要風扇,這表示即使曝光時間超過 10 ms,也能保留非冷卻相機相較於整合式冷卻相機的所有優點。
無 TEC 相機具有許多優點
一般認為 TEC 感光元件在 SWIR 成像中總是能帶來更佳影像品質,這並不正確。反之,是由特定的應用來決定。例如,在曝光時間小於 10 ms 時,TEC-SenSWIR 感光元件與無冷卻 SenSWIR 感光元件相比,在影像品質方面並無任何優勢。另一方面,使用 TEC 感光元件的相機也有許多缺點。針對較長的曝光時間,我們的冷卻配件與相機功能的結合解決方案,可提供具成本效益的替代方案,足以取代配備 TEC 感光元件的高價相機。視應用而定,此解決方案可達到配備 TEC 感光元件相機的影像品質。因此值得您仔細研究,找出適合您個別應用的最佳解決方案。
TEC 相機 | 無 TEC 相機 | |
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外殼尺寸 | ⬆️ | ⬇️ |
價格 | ⬆️ | ⬇️ |
無活動零件 | ❌ | ✅ |
消耗電力 | ⬆️ | ⬇️ |
新型 senSWIR InGaAs 技術的影像品質 (低於 10 ms) | ✅✅ | ✅✅ |
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