TDI 相機系統
如果您正在尋找完整解決方案
找到符合您高效能需求且具成本效益的 TDI 視覺系統。我們將與您攜手打造一套具未來擴展性且值得信賴的解決方案。
降低成本
我們獨特的資料量降低技術可減少資料量並簡化整體系統架構專業支援
我們的專家將與您攜手解決挑戰——從諮詢、程式開發到系統導入節省時間
透過 VisualApplets 進行影像預處理程式設計,可縮短產品上市時間您的完整 TDI 系統
我們協助您打造完全符合需求的視覺系統,涵蓋所有元件——一站式整合服務
Basler 擁有超過 25 年高效能視覺系統導入經驗,可從專案初期即提供專業且以目標為導向的諮詢服務,即使面對複雜應用亦能應對自如。透過與客戶的緊密合作,專案能快速且有效地達成最佳成果。

您的完整解決方案元件總覽
在我們的支援下,您可打造一套高效能、穩定且具高度彈性的 CoaXPress-over-Fiber TDI 視覺系統。透過 QSFP28 光纖連接,可實現最高 100 Gbps 頻寬,並具備優異的電磁相容性。

racer 2 XL TDI 相機
搭載最新 GPixel GLT5016BSI CMOS 線掃描感光元件的 TDI 線掃描相機,可在高速運作下提供高亮度、高對比影像。
CoaXPress-over-Fiber 介面
線頻最高可達 500 kHz
16k 解析度
256 TDI 級數
QSFP28 插槽(cage)用於資料連接,12-pin Hirose 連接器用於 I/O 線材

imaFlex 2 Dual 100 影像擷取卡
可程式化影像擷取卡支援連接最多兩台 TDI 相機,或一台 TDI 相機加上一條光纖資料轉發連線至另一張 imaFlex 2 影像擷取卡。
透過影像預處理(影像優化與資料量降低),可降低系統複雜度並減少總持有成本(TCO)。
兩個 QSFP28 連接埠,各提供 4 × 25 Gbps 頻寬
PCIe 3.1 x 16 (Gen3) ,用於資料傳輸至主機電腦
訊號處理:前端 I/O(8IN / 8OUT)與觸發擴展(8IN / 8OUT)
主動式散熱,確保長時間穩定運作

軟體與服務
Frame grabber SDK:提供便利的執行環境,用於系統測試與導入
校正工具:協助完成 TDI 相機與相關元件的導入、校正與同步;軟體以 Python 開源程式碼形式提供
程式開發服務:由專家使用 VisualApplets 開發高效影像預處理設計,從概念驗證(PoC)到可交付解決方案
影像處理與分析:可採用傳統方法(pylon vTools)或 AI 演算法(pylon AI),為各類應用建立穩健的影像分析流程

TDI 相機的散熱解決方案
Basler 為 racer 2 XL 提供彈性化的模組式散熱設計,亦可整合您自有的散熱系統。
壓縮空氣冷卻器:高效能外接式主動冷卻,提供多種連接方式
散熱鰭片:透過外接式被動散熱系統,確保長時間穩定運作

QSFP28 收發器模組與線材
QSFP28 為光通訊收發標準,具備四通道(4 × 25 Gbps),可提供最高 100 Gbps 頻寬,特別適合高線頻與高解析度應用。
QSFP28 收發器模組:用於連接相機與影像擷取卡的光纖資料線材;支援 100GBase 頻寬、SR4 傳輸最長 100 m、採用 MPO 連接
QSFP28 資料線材:用於相機與影像擷取卡之間的資料傳輸;雙端 MPO 連接器光纖線材,具備小彎曲半徑,最長可達 100 m
I/O 線材:用於控制相機 I/O 連接埠、供電與訊號處理;相機端為 12-pin Hirose 連接器,另一端為裸線;提供 3 m / 10 m 長度

從 TDI 相機到線材:
所有元件一覽
我們的 TDI 視覺系統在以下應用領域表現卓越
我們的 TDI 視覺系統具備整合式影像預處理能力,特別適用於需要高速與高靈敏度的嚴苛工業應用。即使在低光源條件下,也能提供高細節、高對比影像,實現高度可靠的品質檢測並降低不良率。

晶圓與半導體檢測
TDI 視覺系統可應用於晶圓與半導體檢測,用於偵測晶圓表面最微小的缺陷與不均勻性。在相同光源條件下,系統可提供更高的訊號品質,支援更高的傳送帶速度,從而提升產線的檢測吞吐量。同時,系統具備極高的光敏感度、微米等級解析度,並可在多個 TDI 級數下維持穩定且均勻的線掃描表現。

電池製程檢測
在電池生產中,為確保品質與安全性,必須能在高速生產條件下可靠地檢測出微小缺陷,例如顆粒、塗佈缺陷或微裂紋。TDI 視覺系統可產生高解析度影像,例如電極帶與隔離膜的影像,同時支援高資料吞吐量。透過跨多個 TDI 級數的時間同步整合,可生成低雜訊且高細節的影像。
在晶圓檢測系統中,除了偵測微小缺陷外,與製程條件一致的穩定成像同樣關鍵。Basler TDI 系統可透過應用導向的視覺系統設計,針對不同系統與製程進行最佳化,從而在高吞吐量運作下仍能維持一致且穩定的檢測結果。


平面顯示器
在平面顯示器(LCD、LED、OLED、QLED)的生產與檢測過程中,常見的應用包括偵測各類缺陷或異常,例如壞點、色彩失真、背光漏光、觸控異常、顆粒、刮傷或線狀缺陷。系統可在高速傳送帶運作下對大型基板進行掃描,並在產線中實現 100% 全面檢測。

PCB 光學檢測
在高速 PCB 檢測中,需精準識別複雜元件缺陷與微米等級的電路錯誤。TDI 視覺系統具備高資料吞吐量與極高精度,可滿足此類需求。系統可提供低雜訊、高對比影像,非常適合進行精密缺陷檢測。因此,能可靠地檢測出焊接缺陷、高度偏差與微裂紋等細微瑕疵。
以高精度與高速擷取影像、在長距離下即時且穩定地傳輸,並進行無延遲處理,將成為未來高階視覺應用的重要挑戰。我們的系統級解決方案可協助客戶有效克服這些挑戰。

您如何從 Basler TDI 視覺系統中獲益
若以下任一情況符合您的需求,我們的 TDI 視覺系統將是理想選擇:
您希望降低成本並採用更精簡的系統架構
因為降低設備成本與總持有成本(TCO)可有效提升整體成本效益。
您希望與具備專業經驗的團隊合作
因為問題的理解與解決需要深厚的技術知識、創意與實務經驗。
您希望快速完成視覺系統建置
因為減少此部分的時間與投入,可讓您更專注於其他核心任務。
您希望由單一供應商提供完整元件與服務
因為單一窗口可大幅降低管理與系統整合的複雜度。