
同軸光與其使用時機
同軸光適用於反光表面,可在物體邊緣產生高對比度,非常適合用來檢測半光面、光面、反光元件與表面的刮痕或損傷。

同軸光透過半透光鏡,將光線投射至物體上。
從物體反射的光穿過半透光鏡進入相機光圈;另一方面,漫反射的光則是以輻射方式經過鏡頭。藉由改變相機與物體之間的距離,可控制此作用。
同軸光適用於在反光物體的邊緣產生高對比度。
秘訣:此作用可透過相機到物體的距離來控制。
應用範例:檢測半光面、光面、反光元件與表面的刮痕或損傷。
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