SIM 커넥터 핀 검사
어플리케이션
이 어플리케이션은 Gocator 2420 센서를 적용하여 나노 SIM 커넥터를 측정하는 인라인 검사 공정이며, 총 14곳의 위치에 7개의 작은 핀과 7개의 큰 핀이 있는 SIM 커넥터의 검사입니다.
검사의 어려움
효율적이고 경제적인 생산라인과 비효율적이고 고가인 생산라인의 차이는 정확한 품질관리 정보를 확보하는데 달려있다고 할 수 있습니다. 예를 들어, 커넥터의 작은 핀에 불량이 있으면 소켓과의 접촉에 문제가 발생합니다. 커넥터에 결함이 있거나 핀이 누락될 경우 소켓과의 접촉 불량으로 심각한 결과를 초래할 수 있기에, 결함이 있는 커넥터는 생산 과정에서 반드시 검출이 되어야 합니다.
하지만 안정적인 품질검사 관리 정보가 없다면, 결함이 있는 커넥터가 대리점이나 고객에게 공급되기 쉽고, 장기적으로 생산자에게 더 많은 비용이 드는 결과를 초래할 수 있습니다. 커넥터 핀의 유무를 판단하고 및 높이를 측정하는 가장 안정적인 방법은 3D 스캐닝 기술을 사용하여 핀의 높이 값을 정확히 측정함으로 엄격한 검사기준에 맞추어 부품의 합격 / 불합격을 판단하는 것입니다.
솔루션 제안
Gocator 2420은 높이 기준점(height threshold)을 이용하여 Start와 Stop의 트리거를 보내 SIM커넥터를 스캔하도록 설정되어 있습니다. Gocator 표면 스캔 모드는 스캔한 프로파일을 자동으로 결합하여 SIM 커넥터의 표면을 완벽하게 시각화하여 출력해 줍니다. 커넥터 핀의 높이 값은 각 프로파일마다 1,940개의 데이터 포인트를 이용하여 중간값(median) 혹은 평균값(average)으로 계산됩니다.
Gocator는 Z축 측정범위(MR)가 커서 “Window down” 기능을 사용하면 측정하고자 하는 부품의 높이에 맞게 영역을 설정할 수 있습니다. Gocator 2420은 스캔속도를 최대 5kHz까지 올릴 수 있습니다 (전체 측정 범위의 1/4이 필요한 경우). 이는 요구 공정 사이클 시간 내에 1개의 나노-SIM 커넥터 표면 전체를 완벽하게 검사할 수 있음을 의미합니다
3D 커넥터 핀 검사에서 Gocator 2420의 장점
컨베이어에 높이가 서로 다른 부품이 유입되어도 측정이 가능합니다.
커넥터의 다른 표면을 레퍼런스로 핀의 상대적 높이를 계산합니다.
핀의 높이를 수백 미크론 수준으로 정밀하고 정확하게 측정합니다.
양산 속도에 맞게 고속으로 커넥터 핀의 높이를 측정합니다.
효과
Gocator 센서를 사용한다는 것은 모든 커넥터들을 양산 속도에 맞추어 검사할 수 있다는 것을 의미하며, 얼마나 많은 부품에 결함이 있는지를 정확히 파악할 수 있다는 것입니다. 또한 Gocator는 정밀한 스캔으로 매우 작은 허용 공차를 양산 속도로 적용할 수 있게 해줍니다. 생산 과정의 품질 문제를 신속하게 파악할 수 있기에, 결함이 있는 부품의 유출로 인한 과다한 비용 발생을 막을 수 있어 결과적으로 상당한 원가 절감의 효과를 가져다줍니다.