Flächenkamera

ace 2 X visSWIR

SWIR-Kameras sehen, was unserem Auge verborgen bleibt

Von der kurzwelligen Infrarotkamera profitieren Anwendungen wie die Überprüfung von Sicherheitsmerkmalen, Erkennung von Füllständen, das Durchleuchten komplexer Strukturen oder Aufspüren versteckter Objekte.

Zu den ace 2 X visSWIR-Kameras

visible + SWIR
Aufnahmen von Bildern im sichtbaren und unsichtbaren Lichtspektrum mit Wellenlängen von 0,4 µm bis 1,7 µm
Hohe Auflösung und Detailtreue
Dank der hochempfindlichen Sony IMX990/991 SenSWIR-Sensoren
Kleine Bauform
Problemloses Eindesignen dank des kompakten Gehäuses mit 29 mm x 29 mm
visSWIR-Zubehör
Große Auswahl an visSWIR-Komponenten passend für kurzwellige Infrarot-Anwendungen
Standard-Schnittstellen
GigE- und USB 3.0-Schnittstelle für hohen Datendurchsatz, unterstützt von Industrie-PCs und Embedded Systemen
Integrierte Bildaufnahme
Kamerasteuerung und Bildaufnahme in einem System
Top Preis-Leistungsverhältnis
SWIR-Portfolio mit hoher Qualität und niedrigen Listenpreisen
Hohe Lebensdauer und Verlässlichkeit
Bekannte Zuverlässigkeit und Langlebigkeit unserer Produkte mit drei Jahren Gewährleistung

Pixel Correction Beyond

Pixel Correction Beyond ist eine verbesserte dynamische Defektpixelkorrektur. Das Feature korrigiert mögliche Pixeldefekte (Hotpixel und Defektpixel) in unseren visSWIR-Kameras durch einen von uns entwickelten und patentierten Algorithmus. Dieser führt eine dynamische Korrektur der aktuellen Bilder bezogen auf den Bildinhalt direkt auf der Kamera durch.

Mehr über Pixel Correction Beyond

Die Möglichkeiten der ace 2 X visSWIR-Kameras

ace 2 X visSWIR-Kameras arbeiten im Short Wave Infrared (SWIR) Bereich. In diesem Spektralbereich haben viele Materialien andere optische Eigenschaften als im sichtbaren Bereich. Dadurch können Anwendungen realisiert werden, die im sichtbaren Wellenbereich nicht möglich sind.

Blick unter die Oberfläche

Licht im SWIR-Spektralbereich macht viele Materialien durchsichtig. Dadurch erlauben Kurzwellige Infrarotkameras (SWIR) einen Blick auf das, was unter der Oberfläche liegt. So lassen sich beispielsweise Defekte bei Obst und Gemüse erkennen, Füllstände bei ansonsten undurchsichtigen Behältern überprüfen oder elektronische Geräte auf eine vollständige Bestückung kontrollieren.

Temperaturerkennung

SWIR-Kameras können ab etwa 140°C zur Temperaturmessung bzw. -abschätzung von Objekten eingesetzt werden. Im SWIR-Spektralbereich erzeugen unterschiedliche Temperaturen unterschiedliche Helligkeiten. Diese Eigenschaft kann beispielsweise zur Überprüfung von Schweißnähten oder zur Prozessüberwachung eingesetzt werden.

Typische Anwendungsfelder im SWIR-Spektralbereich

Die Vielfalt der Anwendungsfelder von Vision Systemen im SWIR-Spektralbereich reicht von der Halbleiterüberprüfung über Recycling bis zur Qualitätsinspektion und Sortierung von Lebensmitteln.

Wafer-Inspektion

Silizium ist im SWIR-Spektralbereich transparent, so dass bei der Produktion und Prüfung von Halbleitern Defekte wie Hohlräume, Risse und Verunreinigungen sichtbar werden.

Solarinspektion

Mit SWIR-Technologie werden bei der Inspektion von einzelnen Siliziumblöcken bis hin zu kompletten Photovoltaik-Zellen Defekte erkannt, die im sichtbaren Frequenzbereich nicht sichtbar sind.

Materialsortierung

Im SWIR-Wellenbereich können verschiedene Materialien aufgrund ihrer optischen Eigenschaften unterschieden und sortiert werden. So können z.B. beim Recycling unterschiedliche Kunststoffe voneinander getrennt werden.

Füllstandskontrolle

Im SWIR-Wellenbereich kann man Füllstände durch Materialien hindurch erkennen, die ansonsten undurchsichtig sind. Dies können Kunststoff-Flaschen in der Getränke-abfüllung oder auch Blister in der Pharmaindustrie sein.

Sicherheitscheck

Bei der Produktion von Banknoten und Ausweisdokumenten können Sicherheitsmerkmale wie Metallstreifen unter der Oberfläche auf Fehler oder Fälschungen überprüft werden. Auch ist die Inspektion spezieller Druckfarben im Infrarotspektrum möglich.

Qualitätskontrolle bei Lebensmitteln

Bei der Sicherung der Qualität von Agrarprodukten werden Defekte unter der Oberfläche erkannt. Auch kann zwischen Produkt und Verunreinigungen – z.B. zwischen Kartoffel und Stein – unterschieden werden.

Interessiert an einer Lösung mit SWIR-Technologie? Unser Team aus Application Engineers prüft und testet Ihren Anwendungsfall. Kontaktieren Sie uns gerne!