Basler ace 2 X visSWIR-Kamera
Flächenkamera

Basler ace 2 X visSWIR

Sehen, was unserem Auge verborgen bleibt

Die ace 2 X visSWIR-Kameras liefern beste Bildqualität im sichtbaren und kurzwelligen Infrarot-Spektrum. Sie sind zudem kompakt und günstig, sodass sie sich für Anwendungen eignen, für die herkömmliche SWIR-Kameras zu groß oder zu teuer sind.

  • visible + SWIR

    Bildaufnahme im sichtbaren und kurzwelligen Infrarot-Spektrum bis 1,7 µm
  • Kleine Bauform, kleiner Preis

    Kamera im kompakten Gehäuse mit nur 29 mm x 29 mm zum niedrigen Preis
  • Hohe Bildqualität

    Dank innovativer Firmware-Features liefert die ungekühlte Kamera beste Bildqualität
  • Umfangreiches visSWIR-Zubehör

    Aufeinander abgestimmte Komponenten für das Vision System aus einer Hand

Das Beste aus zwei Welten dank innovativer Firmware-Features

Unsere ace 2 X visSWIR-Kameras vereinen die hohe Bildqualität einer gekühlten Kamera mit der Größe und dem Preis einer ungekühlten Kamera.

SWIR-Sensoren (short wavelenght infrared, SWIR) basierend auf der InGaAs-Technologie tendieren zu Pixeldefekten, die als weiße Punkte im Bild sichtbar werden. Eine längere Belichtungszeit oder erhöhte Sensortemperatur verstärken diesen Effekt. Häufig kommen deshalb Kameras mit Kühlung zum Einsatz, was wiederum einen nachteiligen Effekt auf Größe und Preis der Kameras hat.

Links: ungekühlte ace 2 X visSWIR Kamera mit Pixel Correction Beyond | Rechts: ungekühlte Vergleichskamera

Bilder ohne Pixeldefekte dank Pixel Correction Beyond

Die für InGaAs-Sensoren typischen Pixeldefekte können sich negativ auf die Bildverarbeitung auswirken. Pixel Correction Beyond ist eine dynamische Defektpixelkorrektur und ein Grund für die hervorragende Bildqualität unserer SWIR-Kameras.

Das Feature beruht auf einem von uns entwickelten Algorithmus. Während der Anwendung erkennt dieser in jedem Bild die vorhandenen Pixeldefekte und korrigiert sie direkt im FPGA der Kamera ohne den Bildinhalt zu verfälschen. Der Bildvergleich zeigt den Effekt bei 35°C Sensortemperatur und 50 ms Belichtungszeit. Pixel Correction Beyond reduziert Pixeldefekte signifikant.

Mehr über Pixel Correction Beyond

Links: Line Noise Reduction aus | Rechts: Line Noise Reduction an

Homogener Hintergrund dank Line Noise Reduction

Um mit den SWIR-Kameras mit VGA bzw. 1,3 MP Auflösung (IMX991 bzw. IMX990) eine ebenso hervorragende Bildqualität zu erhalten wie mit den hochauflösenden SWIR-Kameras, verfügen diese Modelle über Line Noise Reduction.

Das Feature minimiert in Echtzeit das Hintergrundrauschen, das als horizontale Streifen im Bild sichtbar ist, und sorgt so für einen homogeneren Hintergrund.

Optimale Bildqualität auch für längere Belichtungszeiten durch externe Kühlung

Die Bildqualität von InGaAs-Sensoren nimmt mit zunehmender Belichtungszeit und Sensortemperatur deutlich ab. Für Applikationen mit längeren Belichtungszeiten von über 10 Millisekunden kann es daher sinnvoll sein, die Sensortemperatur durch externe Kühlung zu reduzieren, um eine optimale Bildqualität zu erhalten.

Unsere Kühllösungen, kombiniert mit unseren hochentwickelten Bildbearbeitungs-Algorithmen, verbessern das Signal-Rausch-Verhältnis (SNR – Signal-to-Noise Ratio) und damit die Bildqualität deutlich. So erhalten Sie selbst bei längeren Belichtungszeiten von bis zu 1 Sekunde exzellente Bilder.

Unsere externen Kühlungen arbeiten ohne Lüfter. Dadurch bleiben alle Vorteile einer ungekühlten Kamera gegenüber einer Kamera mit integrierter Kühlung erhalten: geringer Platzbedarf, attraktiver Preis und niedrige Leistungsaufnahme. Darüber hinaus gewährleisten sie eine stabile Bildaufnahme ohne Vibrationen und eignen sich hervorragend für den Einsatz in Reinräumen, da keine Luftverwirbelungen entstehen.

Passive Kühlrippen

Passive Kühlrippen

  • Einfache Anwendung, insbesondere für erste Evaluierung geeignet

  • Keine beweglichen Teile

  • Stabilisiert die Sensortemperatur auf < 45 °C (abhängig von Luftzirkulation und verwendetem Sensor)

Zu den Kühlrippen

Aktiver Druckluftkühler

Aktiver Druckluftkühler

  • Hervorragende Kühlleistung bei geringem Platzbedarf

  • Keine beweglichen Teile

  • Stabilisiert die Sensortemperatur auf < 33 °C (abhängig vom Druckluftsystem und dem verwendeten Sensor)

Zum Druckluftkühler

ace 2 X visSWIR Kameramodelle

Finden Sie die passende Kamera für Ihre Anwendung oder nutzen Sie unseren Vision System Configurator, um Ihr System zu konfigurieren.

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Die Möglichkeiten der ace 2 X visSWIR-Kameras

Die ace 2 X visSWIR-Kameras erfassen Licht sowohl im sichtbaren als auch im kurzwelligen Infrarotbereich (SWIR). Im SWIR-Bereich mit Wellenlängen von 0,9 µm bis 1,7 µm haben viele Materialien andere optische Eigenschaften. Dadurch eröffnen sich neue Anwendungsfelder.

Blick unter die Oberfläche – Druckstelle bei einem Apfel bei 1000 nm (NIR) im Vergleich zu 1350 nm (SWIR)
Druckstelle bei einem Apfel bei 1000 nm (NIR) im Vergleich zu 1350 nm (SWIR)

Blick unter die Oberfläche

Aufgrund der größeren Wellenlänge durchdringt kurzwelliges Infrarotlicht einige Materialien und sie erscheinen transparent. Dadurch erlauben SWIR-Kameras einen Blick auf das, was unter der Oberfläche liegt. So lassen sich beispielsweise Druckstellen bei Obst und Gemüse erkennen, Füllstände bei ansonsten undurchsichtigen Behältern kontrollieren oder Halbleiter auf Defekte überprüfen.

Temperaturerkennung – Lötkolben mit einer Temperatur von ~400 °C bei 1.000 nm (NIR) im Vergleich zu 1.350 nm (SWIR).
Lötkolben mit einer Temperatur von ~400°C bei 1000 nm (NIR) im Vergleich zu 1350 nm (SWIR).

Temperaturerkennung

Heiße Oberflächen (ab ca. 140°C) emittieren Licht im kurzwelligen Infrarotbereich, weshalb SWIR-Kameras zur Temperaturmessung bzw. -abschätzung von Objekten eingesetzt werden. Die Intensität im Bild ist dabei direkt abhängig von der Temperatur. Diese Eigenschaft kann zur Überwachung thermischer Prozesse wie beispielsweise zur Überprüfung von Schweißnähten eingesetzt werden.

Typische Anwendungsfelder im SWIR-Spektrum 

Die Vielfalt der Anwendungsfelder von Vision Systemen im SWIR-Spektralbereich reicht von der Halbleiterüberprüfung über Recycling bis zur Qualitätsinspektion und Sortierung von Lebensmitteln.

Wafer-Inspektion

Silizium ist im SWIR-Spektralbereich transparent, so dass bei der Produktion und Prüfung von Halbleitern Defekte wie Hohlräume, Risse und Verunreinigungen sichtbar werden.

Solarinspektion

Mit SWIR-Technologie werden bei der Inspektion von einzelnen Siliziumblöcken bis hin zu kompletten Photovoltaik-Zellen Defekte erkannt, die im sichtbaren Spektralbereich nicht sichtbar sind.

Materialsortierung

Im SWIR-Spektralbereich können verschiedene Materialien aufgrund ihrer optischen Eigenschaften unterschieden und sortiert werden. So können z.B. beim Recycling unterschiedliche Kunststoffe voneinander getrennt werden.

Füllstandskontrolle

Mit SWIR-Technologie kann man Füllstände durch Materialien hindurch erkennen, die ansonsten undurchsichtig sind. Dies können Kunststoff-Flaschen in der Getränke-Abfüllung oder auch Blister in der Pharmaindustrie sein.

Sicherheitscheck

Bei der Produktion von Banknoten und Ausweisdokumenten können Sicherheitsmerkmale wie Metallstreifen unter der Oberfläche auf Fehler oder Fälschungen überprüft werden. Auch ist die Inspektion spezieller Druckfarben im SWIR-Spektralbereich möglich.

Qualitätskontrolle bei Lebensmitteln

Bei der Qualitätssicherung von Agrarprodukten können Druckstellen erkannt oder der Zuckergehalt abgeschätzt werden. Ebenso kann im SWIR-Spektralbereich zuverlässiger zwischen Produkt und Verunreinigungen – z.B. Kartoffel und Stein – unterschieden werden.

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