CXP-12電子元件檢測解決方案

Basler的CXP-12圖像處理解決方案可應用於各類電子元件的質量保證工序。對於CMOS晶元成像缺陷檢測和顯示面板亮度檢測，可採用配備大景深（遠心鏡頭）的boost相機以及具有高解析度和大視場的相機。

這類相機在上述兩種應用中都展示了實力，可檢查出CMOS晶元上的劃痕和細微缺陷，以及進行顯示面板的亮度檢測。結合適配的CXP-12介面卡和其他CXP-12元件，可滿足更多不同的應用需求。元件中還包括我們經過市場驗證的pylon相機軟體套裝。