ミニLED向けAOI装置におけるBaslerビジョン製品の活用

優れたコストパフォーマンスを誇ることから、ディプレイの撮像性能を向上させる新技術として、直視型LEDディスプレイや背面投射型LEDディスプレイへの導入が進んでいるミニLED。

その製造工程は非常に複雑で、細かな欠陥を検出し、一貫した品質を確保するために高解像度による画像解析が必要になります。

中国の盟拓智能科技有限公司（MENTO）では、Baslerビジョンソリューションを活用することで、外観検査、欠陥検出、不良部位の記録が可能なミニLED向けAOI装置を開発することに成功しました。

ミニLEDの検査では、欠陥を特定し、補修するとともに、不良部位などに関する正確な情報を収集し、製造工程における原材料の廃棄を削減しなければなりません。

そのため、検査の精度・一貫性・効率性の確保が特に重視されました。

主な課題は、以下の通りです。

• チップのサイズが小さく（100µm以下）、配置間隔も狭いため（1.5mm以下）、高い解像度が必要
• 画像のスティッチングが必要
• 優れた色再現性と安定した画質が必要