在自动光学检测(AOI)应用中通过相机运用立体光学测量法

解决方案及其优势

O-Net Industry公司的智能检测系统采用定制的专用光源和具有500万像素分辨率的Basler ace U相机，可为防护口罩采集到高质量的图像材料。该公司的对齐算法会使用图像来检查口罩是否符合所需的标准。为此，他们使用软件来检查口罩的形状和大小、耳带的长度和连接点、鼻部金属条的长度和位置，并且最后检查口罩的边缘。

这个检测系统让原本依靠人工的质量检查工序实现自动化，因此显著提高了检测速率。性能稳定的Basler相机可提高整个系统的稳定性。生产过程通常需要长时间运作并且不能间断，所以稳定性非常重要。O-Net Industry公司还使用了Basler pylon相机软件套装，让所有Basler相机都能轻松集成到整个系统中。

优势：

• 更快、更安全地按照标准规范对口罩进行质量检查
• 专门为相机设计的高稳定性可显著降低维护成本
• 借助易于开发人员使用的Basler pylon相机软件套装，可实现无缝流畅的系统开发过程

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解决方案及其优势

Helmee公司的AOI系统包括三台Basler ace相机、一台工业PC、两台工业机器人、一台盘式传送机以及安全墙。系统自动从托盘中抓取客户的零件，进行100%视觉检测，并根据检测结果分拣零件。

Helmee公司最近将其AOI系统中的Basler ace Classic相机替换为Basler ace L相机。因为ace L像圈尺寸更大（1英寸），这意味着Helmee公司可以使用自己的相机镜头。他们还使用了Basler pylon相机软件套装，以便与三台ace L相机进行通信。

除了Helmee AOI检测软件外，该公司还基于CSD®（覆盖立体偏转测量）专利技术来对Helmee AOI进行开发。CSD®是一种3D图像处理系统，可自动检测高光泽镀铬零件上的各种缺陷。

优势：

• Basler ace L相机提供了1英寸的大像圈，性能灵活可靠
• 可自动处理零件
• 检测流程可集成到生产过程中

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解决方案及其优势

借助可快速运作的Basler ace Classic相机，MSTVision公司可以在自己的立体光学测量系统中进行图像采集，在400万像素分辨率下的帧速率为180 fps。该公司在Basler microEnable 5 marathon VCLx图像采集卡的FPGA中进行立体光学测量的全部计算工作。所采集的“原始图像”会直接在FPGA中处理，不会增加CPU的工作负载，然后图像采集卡会将立体光学测量法的计算结果以四个可选图像的形式呈现出来。借助VisualApplets，Basler具备了一个开发环境，可以让FPGA能够利用自身的功能来增强性能。在此过程中，图像采集卡还能处理分段光源的驱动控制，以便与图像采集同步。

由于FPGA可进行大量的并行处理，因此能以极高的数据速率进行计算，并让每个图像采集卡实现低功耗运作。尽管到目前为止还不能实现高数据率的立体光学测量过程，但现在借助FPGA的性能加速已经使之成为可能。

优势：

• 立体光学测量法具有较高的数据率，适用于生产环境中的应用
• 可直接在FPGA上进行图像处理
• 不占用CPU负载
• 采用更精巧的系统架构

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