工厂自动化

- 晶圆检测:在SWIR光源下,晶圆会展现出透明的外观,所以像空隙、裂缝和杂质等此类的缺陷都是可见的,并不需要借助X光!
- 温度指示:Basler visSWIR相机可提供高分辨率图像,能够用于检测250°C以上的温度环境
- 显示器检测:SWIR技术提供了检测细微表面缺陷所需的高光学分辨率
- 太阳能板检测:可检测从单个硅块到完整光伏电池的整个范畴
- 回收:检测错误投放的废弃物料(例如,检测厨余废料中的塑料)
- 分拣:分离不同类型的塑料
让不可见的细节尽在眼前:短波红外(SWIR)相机可以透过表象看本质。无论是检查安全特征、检测填充液位、照亮复杂的结构,还是检测隐藏的物体 - Basler ace 2 X visSWIR相机都可以近距离观察人眼看不到的细节。这种先进的技术可广泛惠及各类应用,并具备分析灵活度高和细节识别精度高的特性。
久经行业验证的Basler ace 2相机系列再添新成员——visSWIR相机,它搭载Sony(索尼)创新的SenSWIR芯片,可检测0.4 µm - 1.7 µm的波长范围。现在,只需一台相机就能同时采集可见光和不可见光。Basler ace 2 X visSWIR相机可为各类不同应用提供卓越的成像质量,具备出色的性价比。
相机型号 | 帧速率 | 接口 | 感光芯片 | |
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a2A640-240umSWIR | 240 fps | USB 3.0 | IMX991 |
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a2A1280-125umSWIR | 125 fps | USB 3.0 | IMX990 |
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a2A640-240gmSWIR | 240 fps | GigE | IMX991 |
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a2A1280-80gmSWIR | 80 fps | GigE | IMX990 |
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将镜头与相机、滤光片和光源相结合,这在成像质量方面发挥着重要作用。您可在此处找到适合Basler visSWIR视觉系统的镜头。
SWIR镜头将合适的光源与visSWIR视觉系统的其他组件(如相机和镜头)相结合,就能实现出色的效果。您可在此处找到合适的光源设置。
SWIR光源有多种采集卡可供选择,可满足不同的带宽和接口需求。
USB + GigE卡滤光片能以理想的方式保护镜头,尤其是在采集微小细节方面可改善成像质量。探索我们的光学滤光片。
SWIR滤光片使用高质量的精选配件(如IP67外壳和线缆)来完善您的visSWIR视觉系统。
IP67级外壳