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2022-3-7

利用CXP-12技术进行电子元件检测

利用CXP-12技术进行电子元件检测

在CMOS芯片和显示面板等不同电子元件的质量控制流程中,我们的CXP-12组件充分展示了其具备出色的灵活性。这些CXP-12组件在两种成像缺陷检测应用中都展示了实力,可检查出CMOS芯片上的划痕和细微缺陷,以及进行显示面板亮度检测。采用CoaXPress 2.0标准的boost相机 能充分发挥芯片性能,从而在这两种应用中都能确保高数据传输量和最佳成像质量。

CMOS芯片检测应用适合选择高分辨率的相机,它需要具备大焦深和超过30 fps的帧速率,并且能兼容远心镜头。适配的远心镜头的放大倍数为1倍,并能提供21 x 15.79 mm的视场。最理想的方式是将相机与单通道CXP-12接口卡1C和其他CXP-12组件(包括软件)搭配使用。

在测试其中包含的显示面板和微型LED(发光二极管)的亮度时,相机需要检查屏幕可产生的最大亮度,并确保整块面板区域上的亮度分布均匀一致。这需要借助高分辨率的工业相机才能实现。在检测尺寸较大的显示面板时,相机还需要在不牺牲工作速度的情况下具备相应的大视场。在这个应用场景中,将boost相机与单通道接口卡1C结合使用就能稳定可靠地完成任务。

我们的CXP-12解决方案由各类硬件组件和经过市场验证的pylon相机软件套装 组成,已在各种应用中获得了广泛运用

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