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Vision Campus
相机技术Sony IMX CMOS芯片系列型号比较 为什么要对相机进行色彩校准? 专家教您如何为视觉系统找到合适的镜头 适用于嵌入式视觉系统的五大专家级技巧 什么是多光谱成像? CMOS相机比较 图像处理过程中的色彩 处理板 什么是图像处理 图像处理中的3D技术 什么是嵌入式视觉? 为何选择CMOS图像芯片? 什么是ToF (Time-of-Flight)? 什么是成像质量? 相机尺寸 数字相机的工作原理是什么? 芯片技术:CMOS与CCD的对比 实时性 NIR: 即使在弱光条件也可以呈现清晰图像 高灵敏度图像处理相机 Time-of-Flight versus Stereovision显示更多收起接口和标准千兆网(GigE) 什么是CoaXPress? 配备GigE 2.0的多相机系统 System Setup with CoaXPress 2.0 USB 3.0和USB3 Vision Camera Link 哪一款接口适合嵌入式视觉? GenICam标准
- 公司概况
日本CCS
日本CCS株式会社创建于1993年。总部设在培育了众多的开拓型跨国企业的京都市。作为在工厂自动化领域的机器视觉专用LED光源的领导性厂家,以独特的开发,制造和运用技术,向全世界的用户提供最佳的采像方案和产品。
日本CCS 产品线

LDR2系列
字符识别、外观检测、损伤与污垢检测、二维代码读取等

LDL2系列
带发纹金属的损伤检测、异物与有无检测等

LFL系列
液面检测、外观检测、包装品的破裂、污垢检测等

LFX系列
光泽表面、曲面、凹凸面的外观与印字检测、食品与药品的异物混入检测等

HPD2 系列
光泽表面、曲面、凹凸面的外观、印字、颜色识别检测、刻印、损伤与污垢检测等

LFV3 系列
适用于缺陷、损伤、刻印检测、尺寸测量、光泽表面、镜面的缺陷、损伤、刻印、凹陷检测

HLND 系列
适用于异物检测、污垢检测

HLV2系列
尺寸测量用光源、点照明光源等

PF 系列
通过超強力频闪发光进行极小芯片零件的外观检测等

环形光源
CLDR 字符识别、外观检测、损伤与污垢检测、二维代码读取等
CLDR-LA 金属表面的刻印、损伤与污垢检测、异物混入检测等
CLDR-LA1 金属表面的刻印、损伤与污垢检测、异物混入检测等
CSQR 字符识别、外观检测、损伤与污垢检测、二维代码读取等
CHPR 适用于损伤与污垢检测、外观检测、颜色识别检测等

条形光源
CLDL 液面检测、外观检测、包装品的破裂、污垢检测等

平面光源
CTH 液面检测、针孔检测、外观检测、金属零件的毛刺检测等

同轴光源
CLFV 光泽表面、镜面的缺陷、损伤、刻印、凹陷检测等

点光源
CHLV 尺寸测量用光源、点照射用光源等

圆顶光源
CHPD 表面检测、曲面、凹凸面的外观、印字