2015年7月22日

              半導体検査に最適なBasler beat

              圧倒的な高速性と解像度を誇るBaslerカメラは、エレクトロニクス産業の様々な用途に最適です。今回このポートフォリオに、半導体検査に最適なBasler beatが新登場。分析とその後の処理の基礎となる特性を検出、特定します。

              半導体検査の分野でカメラが利用されるのは、電気部品の製造や回路基板の組み立てプロセス。部品が小型化し工程が高速化する中、品質確保のためにカメラシステム自体のさらなる高速化と正確性が求められています。

              12メガピクセルの解像度と62フレーム/秒超えのフレームレートを誇るBasler beatカメラはこうした用途に理想的。はんだペースト検査やダイボンディング用途など高速なスループットと高画質が求められる自動光学検査(AOI) では、Camera Linkインターフェースと超高感度CMV12000 CMOSセンサーを搭載したBasler beatが最高の力を発揮します。

              詳細は当社の営業チームか地域のBasler代理店までお問い合わせください。

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